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研究開発

形態観察技術

表面・界面の形態観察

偏光板は外観が非常に重要視されるため、外観検査はもちろん、製品設計や不良解析などのためにも形態観察は重要な要素となっています。形態観察には、走査電子顕微鏡（SEM）、透過電子顕微鏡（TEM）、走査プローブ顕微鏡（SPM）、レーザ顕微鏡（LM）などのさまざまなタイプの顕微鏡や表面形状測定器を用います。その中から最適な手法により、目的に応じて数十cm～数nmまでの広範囲な領域で観察します。さらに、効果的な観察のために、前処理技術の検討も行っています。
SEMによる偏光板の表面観察例

SEMによる偏光板の表面観察例

TEMによる偏光板の断面観察例

TEMによる偏光板の断面観察例
SPMによる偏光板の表面観察例

SPMによる偏光板の表面観察例

高分子分離膜の構造解析

水処理に用いられる高分子分離膜の解析については、走査電子顕微鏡（SEM）、エネルギ分散型X線分析装置（EDX）やフーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）をはじめ、走査プローブ顕微鏡（SPM）、膜表面電位計など種々の表面分析手法により多面的に解析を行い、新製品開発に貢献しています。
SEMによるRO膜の表面構造観察例

SEMによるRO膜の表面構造観察例

SPMによるRO膜の表面構造観察例

SPMによるRO膜の表面構造観察例

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