電気・電子物性評価技術

携帯電話などの電子機器では GHz の周波数を利用するため、使用する素材にも信号伝達に影響を与えないものが求められます。特に、信号を伝達する回路材料として使用されるフレキシブル回路基板（ FPC ）などについては、微細な変化でも信号伝達に影響を及ぼす可能性がある誘電正接・比誘電率・伝送特性・特性インピーダンスなどの高周波特性を高精度に測定・評価することが重要です。
特に回路基板における重要な測定項目として、Sパラメータ（Scattering Parameter）があります。Sパラメータとは、伝送線路を出入りする電力の大きさや位相により、回路の特性を規定する要素です。Sパラメータは、ベクトルネットワークアナライザにより、MHzからGHz帯まで測定できます。通過（透過）特性|S21|は出力電力を表し、伝送損失の大きさなどを評価できます。また、反射特性|S11|は反射電力の大きさを表すもので、反射波の大きさやその影響を評価できます。このようなSパラメータを測定することにより、伝送可能な信号周波数の判断や伝送損失の変化を評価することができます。

電子部品の小型化が進むにつれ、プロセス材料に対しても電気的特性の要求は厳しくなり、空間電荷や表面電位などの高精度な評価が求められています。また、電気的特性を生かしてカラー複写機などに採用されるポリイミドシームレスベルトは、電気的特性を高精度にコントロールする必要があり、その評価技術が大きな役割を果たしています。
特に、高分子フィルム内部に存在する空間電荷（イオンキャリア）の拡散・移動・蓄積については、独自の空間電荷評価技術により、リアルタイムに観察することができます。