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ヤモリテープのTOF-SIMSへの適用

TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析装置)は、固体試料の最表面にどのような成分(原子、分子)が存在するかを測定するための装置です。ppmオーダーの極微量成分を検出することができ、有機物・無機物に適用できます。
しかしながら、サブミクロンやナノサイズの微粒子表面を評価する場合、固定部材の成分が微粒子に回り込んで試料が汚染され、試料表面が正確に測定できない可能性があります。特に、固定部材に由来する成分が試料表面の成分と同種であった場合、評価が困難です。また多量の微粒子を板状に圧縮加工して分析する場合は微粒子の表面構造が変わってしまい、測定したい表面を評価できない可能性があります。

 ヤモリテープは、微粒子の表面をまったく加工する必要がなく、吸着させるだけでノイズとなる粘着成分を含まない試料の表面成分を評価、または同定評価することができます。

対象者

微粒子の表面(特に有機系の汚染やコート膜組成など)を評価したい方。
微粒子をできるだけ成形加工させずに評価したい方。

ヤモリテープのメリット

分析事例

ここでは、汎用の粘着テープ(アクリル系)、真空系の分析装置で試料を固定する際によく用いられる導電性テープ、そしてヤモリテープで固定した酸化鉄の表面をTOF-SIMSで分析した事例を紹介します。

サンプル
評価粒子:FeOx
汎用粘着テープや導電性テープで固定した酸化鉄表面からは、テープ由来の成分が検出されています。 しかし、ヤモリテープで固定した試料の表面は、それらに比べて大幅に汚染が少ないことが明らかとなっています。

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